Συστήματα μετρήσεων

Συγγραφέας:  John P. Bentley
Μεταφραστής:  Μιχάλης Θεοδωρίδης
Εκδόσεις: Ίων
Έτος: 2009
Αριθμός σελίδων: 627
Τύπος εξωφύλλου: softcover
Γλώσσα: Ελληνικά
ISBN-13: 9789604117000
ISBN-10: 9604117009
Κατηγορίες: Επιστήμη των υλικών
Το θέλουν: 3 metabookers